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低溫掃描探針顯微鏡是一種高分辨率的表面成像技術(shù),它通過在非常低的溫度下對(duì)樣品進(jìn)行掃描和檢測(cè)來獲得微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)信息。這種技術(shù)可以用于研究許多不同類型的材料,包括納米結(jié)構(gòu)、超導(dǎo)體、有機(jī)材料和金屬合金等?;趻呙杷淼里@微鏡(STM)的原理,但它比STM多了一個(gè)重要的特點(diǎn):在非常低的溫度范圍內(nèi)操作。低溫能夠減緩或消除許多熱噪......
針式掃描原子力顯微鏡是一種利用量子隧穿現(xiàn)象的顯微鏡,可以進(jìn)行原子級(jí)的表面成像。核心部分是一個(gè)非常尖銳的針,一端與被測(cè)樣品表面相距約0.1納米。當(dāng)針尖靠近樣品表面時(shí),電勢(shì)差將導(dǎo)致電流從針尖向樣品表面流動(dòng)。通過控制電流的大小,可以得出樣品表面的形狀信息。能夠?qū)崿F(xiàn)原子級(jí)別的成像,不僅可以觀察單個(gè)原子和分子的結(jié)構(gòu),還可以研究它......
快速掃描探針顯微鏡是一種新型的探針顯微鏡,是從掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導(dǎo)顯微鏡,掃描電化學(xué)顯微鏡等)的統(tǒng)稱?;竟ぷ髟硎抢锰结樑c樣品表面原子和分子之間的相互作用,即當(dāng)探針與樣品表面接近納米尺度時(shí),形成各種相互作用的物理場(chǎng),通過檢測(cè)相應(yīng)的物......
afm原子力顯微鏡探針是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年,STM(scanningtunnellingmicroscopy,掃描隧道顯微鏡)由IBM-Zurich的BinnigandRohrer發(fā)明。1982年,Binnig觀察到原子分辨圖Si(7x7)。1985年,Binnig,Ger......
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